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| 價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
|---|
Measurement Features | FilmTek™ 2000SE / 3000SE |
Index of Refraction折射率 | ±0.0002 |
Thickness Measurement Range 膜厚范圍 | 1Å-200µm |
Maximum Spectral Range (nm) 大光譜范圍 | 190-1700 |
Standard Spectral Range (nm) 標準光譜范圍 | 240-1000 |
Reflection 反射 | Yes |
Transmission 透射 | Yes (3000) |
Spectroscopic Ellipsometry 光譜橢圓分析法 | Yes |
Power Spectral Density | Yes |
Multi-angle Measurements (DPSD) | Yes |
TE & TM Components of Index | No |
Multi-layer thickness | Yes |
Index of Refraction | Yes |
Extinction (absorption) Coefficient | Yes |
Energy band gap | Yes |
Composition | Yes |
Crystallinity | Yes |
Inhomogeneous Layers | Yes |
Surface Roughness | Yes |
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